無菌導絲抗彎曲破壞測試儀 試驗程序

無菌導絲（sī）抗彎曲破壞測試（shì）儀

G.3 程序

G.3.1 末端試驗

G311選擇導絲末端部分作為試驗段試驗段包（bāo）括離芯絲末端部約5mm的芯絲部分。

G312將導絲末端的這部分彎曲繞在試（shì）驗裝置(G2)的一個圓（yuán）柱體上,並沿相反方向繞在第二個圓柱體上。(見圖G1)

G313將導（dǎo）絲從圓柱體上（shàng）取下使其伸直重複彎曲與伸直（zhí）程序共20個循（xún）環（huán）。檢查由彎曲過程產生的缺（quē）陷（xiàn）和損壞。另外檢查帶塗（tú）層導絲上塗層的剝落痕跡。

G.32導（dǎo）絲的試驗,不包括末端

選擇導絲上不包括鄰近端或末端的部分,進行G312和G313的試驗程序。

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